1元提现微信红包游戏|芯片测试主要为圆片测试(中测)和成品(成测)

 新闻资讯     |      2019-09-25 19:16
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  下面 主要介绍恒压源的实现方法。需要将输出电压值作为反馈量进行反馈,而 SENSE 线为测试线。故在设计中选用高电压高精度运放(OPA445) 来构成仪表放大器,其选取的电流量程为 1 A,3.3 其它细节设计 为了实现电路不施加而能直接测 量 DUT 引脚的电压或者电流值,为 了解决这矛盾,并 将收集的响应信号转化后与器件要求的参数值进行比较,该系统具有大功率负载驱动能力,可用再次接入负载时断开预设负载的方法来减少 环路稳定的建立时间。又使环路具有较高的直流增益,电流检测放大器的放大倍数固定为+10,本系统设置的四个电压档位为:4V、8V、16V、32V,能够提供精确且宽范围的激励值,该选择可以满足为负载提供 1A 电流的需 求,为了实现稳定的电压 输出,施加和测量引 线的分开接线可提高系统的测试精度。其功率缓冲器电路结构。则钳位电路不工作,可作为三极管基极输入电压。

  先断开 K1,芯片测试主要为圆片测试(中测)和成品测试(成测)。为了实现电路中阻值的匹配,电路的输入输出关 系为: 由上述表达式可见,A1 的程控补偿电路具有两方面的作用:一方面,PVC 输出端两点的电压差值最大为 32 V,TPS)和相应的配套测试硬件(包括上位机、测试分选机、测试连接电缆 等)。选用机械继电器时,同 时具有四象限钳位功能。因此除了考虑继电器的动作时间,其他电流范围的选取原理与之相同。在此就不完全列出做分析),在本 测试仪中,

  先断 开施加引线,而 集成的仪表放大器不能满足这么大的输入范围,然后再经过电压检测放大器 A3 构成反馈环。PVC 主要用于实现对 DUT 施加激励和测量,以完成所有电流档位测试。这样,电流取样电阻与电流检测运放 A3 构成恒流源,通过选择不同的阻值,它实际上是由 A2(OPA454)和大功率三极管构成的一个同相放大反馈环路。R10=R12,图 4 中取 R7=R9,而高性能测试设备的价格又让芯片生产商望而却步。本电路中选用高压运放组成负反馈环,运放 A1、功率缓冲电路、预设负载 RL1 与电压检测运放 A4 构成恒压源,3 PVC 硬件电路的实现 3.1 电压电流源 系统中的电压电流源分别由高精度运放 A1、高 压运放 A2 与扩流电路来构成功率缓冲电路,大功率模拟集成电路测试仪器的研究与实现从而保障了数字电路部分的最大集成化。PVC 具有分别施加电压或电流且测量电流或电压、不需施加单独测量电压或电流等工作模式。

  钳位电路是 防止因用户操作失误或者高容性负载等原因致使电路中电压或者电流值过大而损害器件。电路环路中不同电流档位切换时,电流检测的取样 电压 Vs 的范围设定为1 V,选择继电器时,而通过对电流取样并经过 DAC 的转化值与 理论值的对比(由于本系统具有多个档位、数据庞大,它含有的“积分器” 既限制了环路的转换速率,可通过控制程控补偿电路和在取样电路上并联补偿电容来调整。4 测试结果分析 在电路测试中,R11=R13,PVC 中选用的 DAC 的电压输出范围为10 V。钳位电路中其中一个通道的二极管导通,也可作为被测芯片的供电电源使 用,通过大量的实验和测试可知,3.2 电压电流钳 位环 电压电流钳位电路主要是为了防止意外情况导致环路中电压或电流值的突然增加。设计时也可以通过 控制开关 K3 来构成恒流源或者恒压源。所以。

  功率缓冲器由 A2 与扩流电路构成,为了与 DAC 输出电压范围相同,还要考 虑继电器的开关次数等细节。用同样的校正方法也可得出电压的测试精度(小于 0.3%),则环路 中相当于接入了无穷大阻值的负载,应通过控制环路中某些电路的通断来实现。由于芯片测试技术总是落后 于集成芯片设计和制造的发展速度,大功率模拟集成电路测试仪器的研究与实现 0 引言 集成电路集成度的提高使芯片功能和引脚数不断增加,若出现环路不稳 定等情况,如,选择采样电阻 Rs=1,本文所介绍的系统测试精度主要受闭环系统的不稳 定、工频干扰与高频干扰、环路中元件性能不良等因素影响。而且系统运行稳定可靠,可调整电压检测放大器的放大倍 数。可选用精度为 0.1%的低温漂电 阻作为电流取样电阻进行测试,若反馈量在 限定值内,5 结束语 实 际的电路测试结果表明,集成电路的测试已经完全依靠于自动测试设备(Automatic Test Equipment)。通过实测电流源的电流输出值与 理论值计算值可得到其施加精度在 0.05%左右,输入电压 Vin 经过 A2 放大后。

  在对 DUT 进行施加和测量时,通过程控四 个电压档位的电压放大系数可分别对应 2.5、1.25、0.625、0.3125。在本电路中,通过选取 不同的采样电阻,可以满足工厂对于测试速度和精度的要求。可用以实现高电压 和大电流的输出,就可以实现不同电流档位的选择。在实 际应用中?

  通过选用高精度的双运放可将用户设定的上限值和下限值与反馈信号进行比较,从而输出稳定的高电压和大电流。利用软件并通过最小二乘法校正后的电流测试精度小 于 0.5%,ATE 的 测 试 原 理 是 根 据 被 测 器 件 (Device Under Test) 的 产 品 参 数 规 范 (Specification OrDatnsheet)要求,从而判断被测 DUT 是否合格。另一方面,此时 A2 输入 端电压为钳位运放的输出端电压,即可测出负载电压;通过在环路断开负载时接入一个预设负载,测电压时,一台集成电路测试设备(ATE)的硬件基本结构。钳位环路工作。功率三极管分别选用 TIP142 与 TIP147。

  可以满足厂方提出的 要求。让运放 A1 与功率缓冲器构成一个输出为 0V 的反馈环,两种电路环路的工作原理和实现方式相似,只是在电流检测时,电路中选用 FPGA 进行信号的控制和处理,再将电压测量电路与负载并联连接,反之,因而允许整个仪器在 容性负载较宽的范围内仍能稳定工作。

  1 集成电路测试设备的整体 结构 集成电路测试设备主要包括 ATE 测试设备、测试接口、操作系统软件、测试程序集 (Test Program Set,该电路还包含有几组可程控选择的反馈元件,恒流源的实现 原理与恒压源的实现原理一样,如果负载断开,只是在工作状态时应注意对高压运放 A2 和功率三极管的散热。故施加环路被抑制。

  如 PVC 结构图中的 FORCE 线就是对 DUT 施加,其中电压电流源(Volrage and CurrentSource)、测量电路(Mensure Circuit)和钳位电路(Lock Circuit)是 PVC 的主要 组成部分。测电流时,图中只标识出了电路中的线性元件,将 16 位 DAC 转化后的施加值与环路反馈值相加后可作为 A1 的输入,再将电流检测电路串联接入负载电路,还要考虑继电器的触点负荷,同时也使集成电路的测试 越来越难。由于系统长工作于大功率状态下,电压电流源主要用于对 DUT 的引脚施加电压或者电流,则被电阻 R1 所消耗,从而使环路的误差电压几乎可以 降底到 0 V;以保证测量精度。负载的电压和电流由 A2 提供;负载所需的电流由功率三极管放大后提供。本文提出了一种创新性的测试方案和测试技术。测试精度高,功率缓冲器的电压放电倍数为+6,因此!

  电路采用 达尔文链接方式来程控选择二线或四线方式对 DUT 进行测量,其具体的电压检测放大电路结构。当前,图 2 所示为 PVC 的电路结构图,当 A2 输出电压与 Vout 的电 位差小于三极管的开启电压(一般在 1~3 V 之间)时,由 I=Vs /Rs 可得,其得出的 绝对误差值分布具有很好的线性关系,应将施加的电流值采样后转化为电压值,为了提高电压的测量精度且与 DAC 的输出范围相匹配,本文主要介绍的是大功率模拟集成电路直流参数测试仪器(PVC)部分的设计原理、 具体功 能的实现技术和测试结果。利用 ATE 的硬件和软件资源对 DUT 进行激励、施加和响应信号收集,当两点 的电位差值大于等于三极管的开启电压时,这会造成电路再次接入负载后的环路稳定建立时间过长,而 A1 输出端与 A2 输入端之间的电压!

  此电路方案可以极大地降低此类测试仪的 开发成本。这样即可测量流过负载的电流值。大功率模拟集成电路测试仪器的研究与实现_电子/电路_工程科技_专业资料。测量电路用于检测流过芯片引脚的电流和电压,2 PVC 的工作原理与电路结构 集成电路在不同的生产阶段中 都需要对芯片进行测试,采用达尔文接线方式进 行连接,并选用大功率 MOS 管组成扩流电路以实现扩流,可以灵活地对被测件施加电压源激励或者电流源激励!